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半導體/FPD檢測顯微鏡

產品時間:2022-12-12

簡要描述:

半導體/FPD檢測顯微鏡采用易用設計,能夠提供 300mm 晶圓、平板顯示器、印刷電路板、以及其他大型樣本的高品質觀察。該產品采用靈活的模塊設計,能夠提供適用于多種檢查用途的觀察系統。通過與 Stream 圖像分析軟件結合,從觀察到報告生成在內的整體檢查過程都變得簡單而流暢。

半導體/FPD檢測顯微鏡包括半導體、平板顯示(FPD)、印制電路板(PCB)等整個電子制造業的發展。奧林巴斯新推出的MX63和MX63L工業檢測顯微鏡光學性能、適合大樣品的檢測、人體工學設計等諸多優點將會有助電子制造行業的發展更上一層樓。

半導體/FPD檢測顯微鏡

 新MX63/MX63L顯微鏡支持奧林巴斯MIX照明功能的產品,由此進一步提升了該顯微鏡的觀察能力。MIX可將暗場與明場、熒光或偏振等其他觀察方法結合使用。在很多應用中,MIX能夠幫助用戶觀察到使用傳統顯微鏡難以看到的缺陷。

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長壽命高強度白色LED照明:

 新MX63/MX63L顯微鏡配備了高強度白光LED光源,兼顧低功耗和長壽命的特點,而且其穩定的色溫為可靠的圖像質量和準確的色彩復現提供了保障。

 

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功能性:適合所有晶園尺寸

 新MX63/MX63L顯微鏡特別適用于半導體、平板顯示、印制電路板等行業的大尺寸樣品檢測。MX63可用于晶圓直徑200mm,MX63L可用于晶圓直徑300mm。此外,新顯微鏡還可以選配晶園搬送機,實現可靠、安全、高效的對晶圓正面和背面進行檢測。

 

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模塊化:全面可定制

 新MX63/MX63L顯微鏡的模塊化設計讓檢測者能夠根據應用需要選擇組件。兩款顯微鏡均按潔凈室所有電動組件均安裝在屏蔽結構內,鏡架、鏡筒以及其他部件均經過防靜電處理。

 

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